SPC統計過程控制之不合格品率P圖過程控制用解釋

SPC統計過程控制是TS16949五大核心工具之一，是日常管理最實用管理工具之一，作業眾多成熟管理系統必備工具,被應用到幾乎所有行業眾多領域。本篇摘要介紹SPC統計過程控制之不合格品率P圖控過程控制用解釋，僅供參考。

過程控制用控制圖解釋

C 目的：找出過程不再以同一水平運行的證據——即過程失控——并采取相應的措施。數據點中存在超出控制限的點，或者存在超出隨機情況下可能出現的明顯趨勢或圖形，這就表明存在變差的特殊原因。

C.1  分析數據點，找出不穩定的證據

   超出控制限的點（見圖34）

   a．超出任一控制限就證明在那點不穩定。由于過程穩定且只存在普通原因變差時，很少會出現超出控制限的點。所以我們假設超出的值是由于特殊原因造成的。特殊原因可能有益也可能有害，兩種情況下都應立即調整。這是對任何控制圖采取措施的主要決定原則。應標注任何超出控制的點。

超出上控制限的點（不合格品率更高）通常表明存在下列的一個或多個情況：

   ·控制限或描點錯誤；

   ·過程性能惡化，在當時那點或作為一種趨勢的一部分；

   ·評價系統已改變（例如：檢驗員、量規）。

   低于控制限下的點不合格品率更低）通常表明存在下列一個或多個情況：

   ·控制限或描點錯誤；

   ·過程性能已改進（為了改進，應當研究這種情況且長期保持）；

   ·測量系統已改變。

   在控制限之內的圖形或趨勢——出現異常的圖形或趨勢，即即使所有的點都在控制限之內，都證明在出現這個圖形或趨勢的時期內過程失控或性能水平變化。這種情況會提前給出有關狀態的警告，如不糾正，這種狀態將造成點超出控制限。

   注：當每個子組的不合格項目的平均值（np）較大時（≥9），子組的p的分布近似于正態分布并且可以使用與X圖所用分析相似的分布方法。若np較?。?le;5以下），則不能直接應用下列規則。

b．鏈（見圖35）——在一個受控的，np中等較大的過程中，落在均值兩側的點的數量將幾乎相等。下列任一情況都表明過程變化或開始有變化的趨勢：

   ·連續7點位于均值的一側；

   ·連續7點上升（后者與前者相等或比前者大）或連續地下降。

   在這些情況下，應對促使采取措施的點進行標記（例如第7個高于平均值的點），從這點作一條參考線延伸到鏈的開始點是有幫助的，分析時應考慮趨勢出現或開始變化時的大致時間。

   出現高于均值的長鏈或連續上升的點，通常表明存在下列情況之一或兩者：

   ·過程的性能已惡化——而且可能還在惡化；

   ·評價系統已改變。

   出現低于均值的長鏈或連續下降，通常明明存在下列情況之一：

   · 過程性能已改進（應研究其原因，并將它固定下來）；

   · 評價系統已改變。

     注：當np很小進（5以下），出現低于p的鏈的可能性增加，因此有必要用長度為8點或更多的點的長鏈來作為合格品率降低的標志。