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SPC統計過程控制之不合格品率P圖過程控制用解釋
SPC統計過程控制是TS16949五大核心工具之一,是日常管理最實用管理工具之一,作業眾多成熟管理系統必備工具,被應用到幾乎所有行業眾多領域。本篇摘要介紹SPC統計過程控制之不合格品率P圖控過程控制用解釋,僅供參考。
過程控制用控制圖解釋
C 目的:找出過程不再以同一水平運行的證據——即過程失控——并采取相應的措施。數據點中存在超出控制限的點,或者存在超出隨機情況下可能出現的明顯趨勢或圖形,這就表明存在變差的特殊原因。
C.1 分析數據點,找出不穩定的證據
超出控制限的點(見圖34)
a.超出任一控制限就證明在那點不穩定。由于過程穩定且只存在普通原因變差時,很少會出現超出控制限的點。所以我們假設超出的值是由于特殊原因造成的。特殊原因可能有益也可能有害,兩種情況下都應立即調整。這是對任何控制圖采取措施的主要決定原則。應標注任何超出控制的點。
超出上控制限的點(不合格品率更高)通常表明存在下列的一個或多個情況:
·控制限或描點錯誤;
·過程性能惡化,在當時那點或作為一種趨勢的一部分;
·評價系統已改變(例如:檢驗員、量規)。
低于控制限下的點不合格品率更低)通常表明存在下列一個或多個情況:
·控制限或描點錯誤;
·過程性能已改進(為了改進,應當研究這種情況且長期保持);
·測量系統已改變。
在控制限之內的圖形或趨勢——出現異常的圖形或趨勢,即即使所有的點都在控制限之內,都證明在出現這個圖形或趨勢的時期內過程失控或性能水平變化。這種情況會提前給出有關狀態的警告,如不糾正,這種狀態將造成點超出控制限。
注:當每個子組的不合格項目的平均值(np)較大時(≥9),子組的p的分布近似于正態分布并且可以使用與X圖所用分析相似的分布方法。若np較?。?le;5以下),則不能直接應用下列規則。
b.鏈(見圖35)——在一個受控的,np中等較大的過程中,落在均值兩側的點的數量將幾乎相等。下列任一情況都表明過程變化或開始有變化的趨勢:
·連續7點位于均值的一側;
·連續7點上升(后者與前者相等或比前者大)或連續地下降。
在這些情況下,應對促使采取措施的點進行標記(例如第7個高于平均值的點),從這點作一條參考線延伸到鏈的開始點是有幫助的,分析時應考慮趨勢出現或開始變化時的大致時間。
出現高于均值的長鏈或連續上升的點,通常表明存在下列情況之一或兩者:
·過程的性能已惡化——而且可能還在惡化;
·評價系統已改變。
出現低于均值的長鏈或連續下降,通常明明存在下列情況之一:
· 過程性能已改進(應研究其原因,并將它固定下來);
· 評價系統已改變。
注:當np很小進(5以下),出現低于p的鏈的可能性增加,因此有必要用長度為8點或更多的點的長鏈來作為合格品率降低的標志。
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